Закрыть
Двухлучевые спектрофотометры
Наличие контрольного журнала и журнала работы (Audit Trail)
Спектральная ширина щели

Наличие контрольного журнала и журнала работы (Audit Trail)

Нет

Спектральная ширина щели

1 нм

Наличие контрольного журнала и журнала работы (Audit Trail)

Нет

Спектральная ширина щели

2 нм

Наличие контрольного журнала и журнала работы (Audit Trail)

Нет

Спектральная ширина щели

1 нм
1,5 нм
2 нм
4 нм
5 нм

Наличие контрольного журнала и журнала работы (Audit Trail)

Да

Спектральная ширина щели

1 нм

Наличие контрольного журнала и журнала работы (Audit Trail)

Да

Спектральная ширина щели

2 нм

Наличие контрольного журнала и журнала работы (Audit Trail)

Да

Спектральная ширина щели

1 нм
1,5 нм
2 нм
4 нм
5 нм